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【多选题】
已知同轴线的内导体半径为 a ,外导体的内半径为 b ,内外导体间填充有均匀非理想介质,下列说法正确的是( )。
A.
不改变填充的介质及半径 a ,外导体的内半径 b 越大,同轴线单位长度的绝缘电阻越大。
B.
不改变填充的介质及半径 b ,内导体的半径 a 越大,同轴线单位长度的绝缘电阻越大。
C.
不改变填充的介质,半径比值 b/a 越大,同轴线单位长度的绝缘电阻越大。
D.
保持半径比值 b/a 不变,介质电导率越大,同轴线单位长度的绝缘电阻越大。
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参考答案:
参考解析:
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举一反三
【判断题】一次有效的面试=于充分的准备+精心的提问+仔细的倾听+准确的记录+科学的评估。( )
A.
正确
B.
错误
【单选题】下列关于循环冗余校验的说法中,( )是错误的。
A.
带r个校验位的多项式编码可以检测到所有长度小于或等于r的突发性错误
B.
通信双方可以无需商定就直接使用多项式编码
C.
CRC校验可以使用硬件来完成
D.
有一些特殊的多项式,因为其有很好的特性,而成为了国际标准
【单选题】下列关于循环冗余校验的说法中,()是错误的
A.
带r个校验位的多项式编码可以检测到所有长度小于或等于r的突发性错误
B.
通信双方可以无需要商定就直接使用多项式编码
C.
CRC可以使用硬件来完成
D.
在数据链路层使用CRC,能够实现无比特差错的传输,但这不是可靠的传输
【单选题】在操作系统中,并发性是指以下哪项。
A.
若干个事件在同一时刻发生;
B.
若干个事件在不同时刻发生;
C.
若干个事件在不同的时间间隔内发生;
D.
若干个事件在同一时间间隔内发生
【单选题】下列关于循环冗余校验(CRC)的说法中,( )是错误的。
A.
在数据链路层使用 CRC ,能够实现无比特差错的传输,但这不是可靠的传输
B.
带 r 个校验位的多项式编码可以检测所有长度小于或等于 r 的突发性错误
C.
通信双方可以无须商定就直接使用多项式编码
D.
CRC 可以使用硬件来完成
【单选题】在操作系统中,并发性指若干个事件是
A.
一定在同一时刻发生
B.
可以在任意时刻发生
C.
在一定的时间间隔内同时发生
D.
在不同时间间隔内依次发生
【单选题】下列关于循环冗余校验(CRC)的说法中,( )是错误的。
A.
带 r 个校验位的多项式编码可以检测所有长度小于或等于 r 的突发性错误
B.
通信双方可以无须商定就直接使用多项式编码
C.
CRC 可以使用硬件来完成
D.
在数据链路层使用 CRC, 能够实现无比特差错的传输 , 但这不是可靠的传输
【单选题】在操作系统中,并发性是指
A.
若干个事件在同一时刻发生
B.
若干个事件在同一时间间隔内发生
C.
若干个时间在不同时刻发生
D.
若干个时间在不同的时间间隔内发生
【单选题】在操作系统中,并发性是指( )。
A.
若干个事件在不同时刻发生;
B.
若干个事件在同一时刻发生;
C.
若干个事件在同一时间间隔内发生;
D.
若干个时间在不同的时间间隔内发生;
【单选题】在操作系统中,并发性是指( )。
A.
若干个事件在同一时刻发生
B.
若干个事件的发生时间是随机的
C.
若干个事件在同一时间间隔内发生
D.
若干个事件的发生是时间驱动
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